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簡要描述：日東精工原三菱化學(xué)電阻率小型自動測繪系統(tǒng)MCP-S330是一款小型高精度電阻率映射設(shè)備，可精準(zhǔn)測量表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），不受試樣形狀影響。系統(tǒng)支持最大300mm×300mm樣品二維映射及多片連續(xù)檢測，搭配Loresta GX可實(shí)現(xiàn)10??～10?Ω寬量程測試。具備自動測量、自動演算、數(shù)據(jù)處理及三維圖形輸出功能，應(yīng)用于ITO薄膜、金屬薄膜及顯示電極基板的均勻性分析與質(zhì)量控制。
產(chǎn)品型號：MCP-S330廠商性質(zhì)：代理商 更新時間：2026-02-28訪 問 量：45 產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | Nittoseiko Analytech/日東精工 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 數(shù)字式電阻測試儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,電氣 |
日東精工原三菱化學(xué)電阻率小型自動測繪系統(tǒng)MCP-S330專為低電阻率材料與導(dǎo)電薄膜的精密檢測而設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm）的高穩(wěn)定測量，且不受試樣形狀限制。系統(tǒng)支持300mm×300mm樣品的二維電阻率映射分析，并可進(jìn)行多片樣品連續(xù)測量，大幅提升檢測效率。通過與Loresta GX聯(lián)機(jī)使用，測量范圍覆蓋10??～10?Ω，適用于ITO透明導(dǎo)電膜、金屬薄膜、導(dǎo)電聚合物及顯示器電極基板的膜厚與成分均勻性評估。設(shè)備實(shí)現(xiàn)測定、數(shù)據(jù)運(yùn)算、自動處理及三維圖形輸出全過程自動化，結(jié)果直觀清晰，助力研發(fā)優(yōu)化與生產(chǎn)質(zhì)量管控。
日東精工原三菱化學(xué)電阻率小型自動測繪系統(tǒng)MCP-S330，用于低電阻率材料的表面電阻率與體積電阻率精密測定。支持300mm角樣品映射及多片連續(xù)測量，搭配Loresta GX可覆蓋10??～10?Ω范圍。測量、運(yùn)算、數(shù)據(jù)處理及三維圖形輸出全自動完成，適用于ITO薄膜、導(dǎo)電膜及顯示基板均勻性評估。
中能創(chuàng)美（北京）科技有限公司作為日東精工分析科技的合法認(rèn)證一級代理商，全面負(fù)責(zé)電阻率小型自動測繪系統(tǒng) MCP-S330在中國區(qū)域的銷售、培訓(xùn)及技術(shù)支持。該產(chǎn)品采用4端子4探針法，精準(zhǔn)測量表面/體積電阻率（Ω/□，Ω·cm），支持300mm見方樣品自動掃描與3D圖形輸出，適用于導(dǎo)電薄膜、金屬、ITO玻璃等材料的均勻性評估。為確保產(chǎn)品質(zhì)量與售后服務(wù)，請通過中能創(chuàng)美合法渠道進(jìn)行咨詢。
一、主要特點(diǎn)
可精密測定樣品的表面抵抗率 [Ω／□] 與體積抵抗率 [Ω·cm]，且不受樣品形狀影響。
對導(dǎo)電性薄膜（如導(dǎo)電薄膜、金屬膜、ITO薄膜等）的膜厚與成分不均一性，映射結(jié)果一目了然，便于定位與分析。
支持300 mm × 300 mm以內(nèi)樣品的二維映射，也可進(jìn)行多片樣品的連續(xù)測量，提高檢測產(chǎn)能。
可連接專用測量儀器（ロレスタGX），配合使用時測量范圍覆蓋 10?? 到 10? Ω（量程廣，適應(yīng)不同電阻率層）。
測定、計(jì)算、數(shù)據(jù)處理到三維圖形輸出全部自動化，輸出結(jié)果便于報告與后續(xù)分析。
二、應(yīng)用場景
顯示器基板（液晶、OLED 等）電極的一致性評估與良率管控。
導(dǎo)電聚合物、透明導(dǎo)電膜（ITO）、片材、涂層、金屬化薄膜的研發(fā)與工廠檢驗(yàn)。
需要快速、可視化定位膜厚或成分局部偏差的質(zhì)量控制流程。
三、使用優(yōu)勢（MCP-S330賣點(diǎn)）
自動化測量流程減少人為誤差，數(shù)據(jù)再現(xiàn)性高。
映射圖與三維視圖使薄膜厚度與導(dǎo)電性分布問題直觀可見，便于快速判定問題來源。
小型化系統(tǒng)節(jié)省實(shí)驗(yàn)臺空間，同時支持大尺寸樣品（至300 mm角）與批量檢測。
| 項(xiàng)目 | 規(guī)格 |
|---|---|
| 有效測量范圍 | X軸：300mm / Y軸：300mm |
| 樣品厚度 | 0～40mm |
| 探針上下移動范圍 | 約50mm |
| 定位分辨率 | X、Y軸：0.1mm |
| 重復(fù)定位精度 | X、Y軸：±0.08mm / Z軸：±0.1mm |
| 專用測繪探針 | 直列4探針，針間距可選 1.0mm、1.5mm、5.0mm |
| 樣品臺 | 白色PVC板或玻璃板，附帶X、Y軸50mm刻度標(biāo)尺 |
| 樣品放置方式 | 手動放置（不支持自動傳送） |
| 接口 | USB |
| 電源 | AC100V～240V（50/60Hz），63VA |
| 外形尺寸 / 重量 | 約 543W × 492D × 410H（mm），約 22kg |
五、總結(jié)
日東精工原三菱化學(xué)MCP-S330電阻率小型自動測繪系統(tǒng)專為導(dǎo)電薄膜、金屬、ITO玻璃等材料的電阻率分布測繪設(shè)計(jì)。采用4端子4探針法，精準(zhǔn)測量表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），不受樣品形狀影響。支持300mm見方樣品自動掃描，從測量、數(shù)據(jù)處理到3D圖形輸出全自動化。連接Loresta GX電阻率計(jì)，可覆蓋10??至10??Ω寬量程，直觀呈現(xiàn)膜厚與組成均勻性，廣泛應(yīng)用于研發(fā)、品控與生產(chǎn)現(xiàn)場。
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